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標(biāo)本拋光置入電子顯微鏡中分析礦物組成的化學(xué)元素比例
破壞性?xún)x器分析
古玉的分析可利用電子顯微鏡觀察組成礦物的成分及晶體結(jié)構(gòu)。先把小塊古玉標(biāo)本拋光、
鍍碳后置入電子顯微鏡中，經(jīng)分析可以得到礦物組成的化學(xué)元素比例，透過(guò)元素配位數(shù)的計(jì)算得到礦物的化學(xué)組成，再據(jù)以得到玉石組成礦物。
另一常用的方法是X光粉末繞射分析法。把1公克左右的古玉磨成細(xì)粉，送上X光晶體繞射儀，就可以得到礦物晶體的繞射峰，
經(jīng)比對(duì)國(guó)際繞射資料中心的粉晶繞射圖譜資料庫(kù)，很容易鑒定古玉是否屬于角閃石族中的透閃石礦物。
以上兩種分析都會(huì)破壞古玉，雖然結(jié)果準(zhǔn)確，但不適用于價(jià)值連城的古玉鑒定。
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