朝陽(yáng)利用光學(xué)顯微鏡觀察材質(zhì)的特點(diǎn)-材料分析顯微鏡廠家

作者：發(fā)布時(shí)間：2022-07-02 20:58:35點(diǎn)擊：1958

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利用光學(xué)顯微鏡觀察材質(zhì)的特點(diǎn)-材料分析顯微鏡廠家

顯微鏡觀察的好處

因從文,物的材質(zhì)特性、制作技術(shù)及保存環(huán)境條件，歲月累積在文,物表面上會(huì)呈現(xiàn)獨(dú)特痕跡，

最直接先以目視辦認(rèn)文,物的型式及色澤來(lái)獲取資訊，如不不足則利用光學(xué)顯微鏡觀察，

至于成份組成的判定，仍需準(zhǔn)確度高之科學(xué)檢測(cè)分析方法及儀器來(lái)提供，

此微量分析工作，通常需考量文,物有采樣不易、樣品量少等要求，致發(fā)展所謂之“非破壞檢測(cè)分析”方法

（1）光學(xué)顯微鏡（Optical Microscopy , OM）：比較樣品的微觀顏色與形貌，作為材質(zhì)判定的參考。

（2）X 射線繞射儀（XRD）：檢測(cè)樣品的晶體結(jié)構(gòu)，據(jù)以判定其品種

（3）螢光 X 射線能譜儀（XRF）：可以不必采樣，其能譜顯示樣品的元素成分。

（4）掃描電子顯微鏡／X 射線能譜儀（SEM/EDS）：檢測(cè)樣品的微觀形貌，

（5）透射電子顯微鏡／X 射線能譜儀（TEM/EDS）：檢測(cè)樣品的微觀結(jié)構(gòu)，

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