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在 1992 年時由 P. Güthner 和 K. Dransfeld 等人使用原子力顯微鏡（scanning force microscope）
配合鎖相放大器來量測鐵電共聚物的鐵電區，藉由導電探針當上電極，共聚物薄膜的下方為鋁下電極，
施加交流電壓于上下電極間，并偵測樣品表面的壓電響應的局部振盪，先透過施加 DC
電壓改變其極化方向，再成功取得在共聚物薄膜中已極化區域的微米尺寸下的鐵電區的影像，
此一量測方式與本文所稱之壓電力顯微鏡量測方式已非常相近，
此一量測方式與本文所稱之壓電力顯微鏡量測方式已非常相近，
不同之處乃在其利用一光學干涉儀偵測探針運動而非現今
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