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老上光儀器總廠
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作者: 發(fā)布時(shí)間:2022-07-02 17:08:26點(diǎn)擊:2044
大家好,這里是老上光顯微鏡知識課堂,在這里你可以學(xué)到所有關(guān)于顯微鏡知識,好的,請看下面文章:鍍層測厚儀是北京老上光科技新
鍍層測厚儀是北京老上光科技新研發(fā)的新產(chǎn)品,是德國EPK/易高等同類產(chǎn)品的替代產(chǎn)品,與之前涂層測厚儀相比有以下主要優(yōu)點(diǎn):
1. 測量速度快:測量速度比其它TT系列快6倍;
2. 精度高 :本公司產(chǎn)品簡單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場上能達(dá)到A級的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于上光等國內(nèi)同類.比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高;
3. 穩(wěn)定性:測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品;
4. 功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文測量方法
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復(fù)雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。
尊敬的客戶:
您好,我司是一支技術(shù)力量雄厚的高素質(zhì)的開發(fā)群體,為廣大用戶提供高品質(zhì)產(chǎn)品、完整的解決方案和上等的技術(shù)服務(wù)公司。主要產(chǎn)品有涂層測厚儀、硬度計(jì)等。
本企業(yè)堅(jiān)持以誠信立業(yè)、以品質(zhì)守業(yè)、以進(jìn)取興業(yè)的宗旨,以更堅(jiān)定的步伐不斷攀登新的高峰,為民族自動(dòng)化行業(yè)作出貢獻(xiàn),歡迎新老顧客放心選購自己心儀的產(chǎn)品。我們將竭誠為您服務(wù)!北京老上光科技有限公司期待您的來電洽談!