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磁粉探傷用標(biāo)準(zhǔn)試片A1、A2、D、C、M1型詳細(xì)使用說(shuō)明：
主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。
標(biāo)準(zhǔn)試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中：
| 名稱 | A1型試片 / A2型試片 | D型 | C型 | M1 | ||
| 試片厚度 微米 | 100±10 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | |
| 試片長(zhǎng)度 毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 10±0.5 | 20±1 | |
| 試片寬度 毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 50±0.5 | 20±1 | |
| 分割線間隔 毫米 | 5±0.5 | |||||
| 圓形人工槽直徑 毫米 | 高靈敏度 | 10±0.5 | 10±0.5 | 5±0.3 | 12 | |
| 中靈敏度 | 9 | |||||
| 低靈敏度 | 6 | |||||
| 十字人工槽長(zhǎng)度 毫米 | 高靈敏度 | 6±0.3 | 6±0.3 | 3±0.2 | ||
| 中靈敏度 | ||||||
| 低靈敏度 | ||||||
|
人工槽深度
微米
|
高靈敏度 | 15±2.0 | 7±1.0 | 7±1.0 | 8±1.0 | 7 |
| 中靈敏度 | 30±4.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15 | |
| 低靈敏度 | 60±8.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30 | |
| 人工槽寬度 微米 | 60—180 | |||||
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試片使用方法：
標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)將試片無(wú)人工缺陷的面朝外，為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。
磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A130/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。當(dāng)檢測(cè)坡口狹小部位，由于尺寸關(guān)系可選擇適合大小的試片檢測(cè)；當(dāng)用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時(shí)，可選用規(guī)定的試片檢測(cè)。
標(biāo)準(zhǔn)試片在檢測(cè)前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去；檢測(cè)后請(qǐng)防銹。
標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。
A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過(guò)退火處理；A2試片未經(jīng)過(guò)退火處理。
C型標(biāo)準(zhǔn)試片可剪成5個(gè)小試片分別使用。
磁粉探傷用標(biāo)準(zhǔn)試片A1、A2、D、C、M1型詳細(xì)使用說(shuō)明：
- 上一條 查看詳情 +房山GB/T JB/T 超聲波檢測(cè) 探傷 方法執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
- 下一條 查看詳情 +房山利用聲學(xué)特性的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)___超聲波檢測(cè)技術(shù)
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