大家好，這里是老上光顯微鏡知識課堂，在這里你可以學到所有關于顯微鏡知識，好的，請看下面文章： 基于高空間分辨率（45πm，目前更高紀錄）的定量環形開場成像（ABF）技術檢測了鋯鈦酸鉛（PbZr0.2Ti0.8O3）鐵電薄膜的異常原子量。北京大學電子光學實驗室，日本和臺灣的合作者。結構。鐵電薄膜的表面結構對鐵電數據的存儲、傳感、表面化學等應用有重要影響。由于缺乏有效的表征方法來研究這些復合絕緣氧化物的表面性質，對鐵電材料的表面原子結構知之甚少。在美國和日本，基于圖像定量分析和原位動態檢測等先進電子顯微技術的鐵電材料n反轉。他和他的合作者系統地報道了界面對疇成核{Nat.共同體。2, 591（2011）；科學334, 968（2011）}，缺陷與疇壁之間的相互作用{nAT。共同體。4, 2791（2013）；Nat。共同體。5, 3801（2014）}，疇穩定性{ Adv. Mater〉。24, 1106（2012）}。
    
     他們的最新工作是利用環形開場成像技術(圖1)在Pimi(0.001nm)上測量陰離子和陽離子之間的鍵長，從而計算表面結構的精細畸變。結果表明，PbZr0.2Ti0.8O3的表面原子結構是復雜的。在不同極化方向的鐵電疇中存在明顯差異。這些發現為鐵電薄膜、鐵電陶瓷、鐵電表面催化等應用提供了重要信息。基于開環成像技術的絕緣氧化物表面結構的研究將極大地提高人們對這些復合功能氧化物材料物理性質的認識。北京大學C旋光顯微鏡實驗室、中央分部青年項目、2011個協同創新中心和自然科學基金會。
    
     北京大學大型公共儀器平臺電子光學與電子顯微鏡實驗室安裝了兩臺世界上更先進的球面像差校正透射電子顯微鏡（圖2），該實驗室由博士院于大鵬院士領導。集成電路，在2015年底：Nion的U-HERMES200的單色儀（能量分辨率8meV）和FEI的雙球差校正的泰坦立方體Themis G2 300（空間分辨率60pm）。發展新型電子顯微鏡技術在材料科學中的應用，進一步提高大型高端儀器的管理水平，提高電子顯微鏡平臺服務的效率和質量。
    
     圖1(a)具有環形光場的PbZr0.2Ti0.8O3薄膜的表面結構；(b)極化下疇的表面結構。表面附近Pb-O鍵長的變化趨勢表明在s附近存在鐵電死層和180度帶電疇壁。表面結構。（c）極化向上疇的表面結構。Pb-O鍵長在表面附近的演化表明沒有明顯的表面重塑。（d）疇的表面結構與表面平行。鐵電死層和90度帶電疇壁靠近表面。
    
     圖2為北京大學電子顯微鏡實驗室獲得的兩臺電子顯微鏡的校正圖。（a）FEI雙球差校正電子顯微鏡Titan Cu.Themis G2 300，具有DPC、EDX、EELS、Lorentz等功能，電壓范圍60-300kV，空間分辨率o(b)Nion單色像差校正掃描透射電子顯微鏡U-HERMES200.電壓范圍40-200kV，更高能量分辨率為8meV，更高空間分辨率為60pm。
    
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