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LED模組亮度檢測的方式簡介-CCD測量顯微鏡
大型發光二極體(LED)顯示器之LED顯示模組，常因個別LED特性問題造成顯示畫面有亮度不均勻情形，
形成畫面區塊狀況，使得顯示效果大打折扣。本文提出一個亮度偵測器，對LED顯示模組內的每一顆LED做亮度測試，
計算出每一區域LED應該補償之驅動電流，并將該方法以硬體電路實踐之，
使達成即時補償的要求，藉以提高大型LED顯示面板發光亮度的均勻性，進而產生令人賞心悅目的顯示畫面。
以往LED模組亮度檢測系統有下列方式：
1. 以CCD攝影機為取像設施，其優點為檢測平面資料一次擷取，
但相對的缺失則是影像資料需要高速運算，測試時間長，有實用上的問題；
2. 采用光電晶體陣列取像，優點是亮度資料擷取快速，缺失則是需要精密的機械機構解決定位問題以及導光設施，
才能避免各個LED光源的干擾。
優點如后所述：
1. 采用區域亮度量測法的光電晶體陣列取像避免了精密結構的困擾；
2. 提升檢測速度；3. 量測數據換算成補償數值填入LED模組，使得LED模組發光均勻性提升至90%以上。
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