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使用金相顯微鏡觀察整個(gè)晶粒尺寸的變化過(guò)程
在試件成形過(guò)程中，晶粒排列的方向有隨試片拉伸方向延伸的現(xiàn)象，且空孔的形狀也與晶粒排列的方向一致。
使用金相顯微鏡觀察整個(gè)晶粒尺寸的變化過(guò)程中，其差異大都介于 2 mμ 之間，對(duì)于快速率超塑成形中所需的細(xì)晶結(jié)構(gòu)，提供了很大的幫助。
在成形過(guò)程中，整體晶粒尺寸的變化會(huì)有下降而后于觸底之后有些為上升的趨勢(shì)，推論與塑性變形量所造成的加工量是否高于臨界
加工量有關(guān)，但由于成形時(shí)間過(guò)短，所產(chǎn)生的效應(yīng)并不明顯，至于臨界加工量的大小
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