大家好，這里是老上光顯微鏡知識課堂，在這里你可以學(xué)到所有關(guān)于顯微鏡知識，好的，請看下面文章： 基于高空間分辨率（45πm，目前更高紀錄）的定量環(huán)形開場成像（ABF）技術(shù)檢測了鋯鈦酸鉛（PbZr0.2Ti0.8O3）鐵電薄膜的異常原子量。北京大學(xué)電子光學(xué)實驗室，日本和臺灣的合作者。結(jié)構(gòu)。鐵電薄膜的表面結(jié)構(gòu)對鐵電數(shù)據(jù)的存儲、傳感、表面化學(xué)等應(yīng)用有重要影響。由于缺乏有效的表征方法來研究這些復(fù)合絕緣氧化物的表面性質(zhì)，對鐵電材料的表面原子結(jié)構(gòu)知之甚少。在美國和日本，基于圖像定量分析和原位動態(tài)檢測等先進電子顯微技術(shù)的鐵電材料n反轉(zhuǎn)。他和他的合作者系統(tǒng)地報道了界面對疇成核{Nat.共同體。2, 591（2011）；科學(xué)334, 968（2011）}，缺陷與疇壁之間的相互作用{nAT。共同體。4, 2791（2013）；Nat。共同體。5, 3801（2014）}，疇穩(wěn)定性{ Adv. Mater〉。24, 1106（2012）}。
    
     他們的最新工作是利用環(huán)形開場成像技術(shù)(圖1)在Pimi(0.001nm)上測量陰離子和陽離子之間的鍵長，從而計算表面結(jié)構(gòu)的精細畸變。結(jié)果表明，PbZr0.2Ti0.8O3的表面原子結(jié)構(gòu)是復(fù)雜的。在不同極化方向的鐵電疇中存在明顯差異。這些發(fā)現(xiàn)為鐵電薄膜、鐵電陶瓷、鐵電表面催化等應(yīng)用提供了重要信息。基于開環(huán)成像技術(shù)的絕緣氧化物表面結(jié)構(gòu)的研究將極大地提高人們對這些復(fù)合功能氧化物材料物理性質(zhì)的認識。北京大學(xué)C旋光顯微鏡實驗室、中央分部青年項目、2011個協(xié)同創(chuàng)新中心和自然科學(xué)基金會。
    
     北京大學(xué)大型公共儀器平臺電子光學(xué)與電子顯微鏡實驗室安裝了兩臺世界上更先進的球面像差校正透射電子顯微鏡（圖2），該實驗室由博士院于大鵬院士領(lǐng)導(dǎo)。集成電路，在2015年底：Nion的U-HERMES200的單色儀（能量分辨率8meV）和FEI的雙球差校正的泰坦立方體Themis G2 300（空間分辨率60pm）。發(fā)展新型電子顯微鏡技術(shù)在材料科學(xué)中的應(yīng)用，進一步提高大型高端儀器的管理水平，提高電子顯微鏡平臺服務(wù)的效率和質(zhì)量。
    
     圖1(a)具有環(huán)形光場的PbZr0.2Ti0.8O3薄膜的表面結(jié)構(gòu)；(b)極化下疇的表面結(jié)構(gòu)。表面附近Pb-O鍵長的變化趨勢表明在s附近存在鐵電死層和180度帶電疇壁。表面結(jié)構(gòu)。（c）極化向上疇的表面結(jié)構(gòu)。Pb-O鍵長在表面附近的演化表明沒有明顯的表面重塑。（d）疇的表面結(jié)構(gòu)與表面平行。鐵電死層和90度帶電疇壁靠近表面。
    
     圖2為北京大學(xué)電子顯微鏡實驗室獲得的兩臺電子顯微鏡的校正圖。（a）FEI雙球差校正電子顯微鏡Titan Cu.Themis G2 300，具有DPC、EDX、EELS、Lorentz等功能，電壓范圍60-300kV，空間分辨率o(b)Nion單色像差校正掃描透射電子顯微鏡U-HERMES200.電壓范圍40-200kV，更高能量分辨率為8meV，更高空間分辨率為60pm。
    
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