在線留言
網站地圖 
RSS
您好，歡迎訪問老上光儀器總廠網站！
聯系地址：北京市海淀區上地信息路信息產業三街
聯系電話 
152 0116 0776 / 400-811-7895
顯微光譜學 IR microscopy
對于物理尺寸在10至500 mm范圍的樣品，可以使用IR顯微光譜法來觀測樣品中物種之吸收光譜或者反射光譜。
IR顯微鏡通常是由兩具顯微鏡所構成的，
其中一具是一般的光學顯微鏡，
另一具則是具有反射光學部分的IR裝置，而能夠將IR光束的大小減少到與樣品的尺寸相近。
光學顯微鏡通常被使用來觀察，預備以IR光束研究之樣品顆粒或者樣品斑點的位置。
IR光源通常是一具傅立葉轉換光譜儀，而不是光柵型儀器。
偵檢器通常是比其他IR偵檢器類型更為靈敏的液態氮冷卻式碲化汞–碲化鎘光導電裝置。
在目前，它的一些用途包括有，針對聚合物污染、聚合物薄膜之缺失、與薄層式聚合物薄板之個別層面等各項，
進行辨識工作；針對纖維、涂料、進行辨識工作；對電子組件之污染物進行辨識工作等等
網站網友點擊量更高的文獻目錄排行榜：
點此鏈接
關注頁面底部公眾號，開通以下權限：
一、獲得問題咨詢權限。
二、獲得工程師維修技術指導。
三、獲得軟件工程師在線指導
toupview,imageview,OLD-SG等軟件技術支持。
四、請使用微信掃描首頁底部官主賬號！ 
客服1