石景山精密儀器常識(shí)-是誰發(fā)明的STM電子顯微鏡

作者：發(fā)布時(shí)間：2022-07-02 20:56:38點(diǎn)擊：1957

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精密儀器常識(shí)-是誰發(fā)明的STM電子顯微鏡

STM 是由 Gerd Binnig 及 Heinrich Rohrer 共同設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)出的結(jié)果。起初是因兩人

討論到 Rohrer 對于”inhomogeneities on surfaces（表面不均勻能量態(tài)）”的想法，特別

是針對金屬表面上的薄氧化層樣品；由于這個(gè)研究牽涉到如何小范圍地觀察這些薄

膜，兩人了解到這方面儀器的缺乏。

另一方面，兩人也想知道若依特別的排列方式進(jìn)

行穿隧接觸(arranging tunneling contacts in a specific manner)，是否可以得到更多與這

個(gè)題目相關(guān)的資訊。因此 Binnig 想起了自己之前的想法，也就是 vacuum tunneling（真空穿隧）。

當(dāng)時(shí)距離 Giaever 發(fā)表 tunneling spectroscopy 技術(shù)已有 20 年之久，但一直到兩人

開始進(jìn)行研究后不久，才由另一位 IBM Research Division’s Technical Review Board 的

成員 Seymour Keller 將他們的注意力引向 W. A. Thompson 及 Hanrahan 在 1976 年利用

positionable tip（可定位探針）所做的真空穿隧嘗試。Binning 和 Rohrer 驚喜地發(fā)現(xiàn)許

多新的可能性，他們將不只獲得一個(gè)區(qū)域性的能譜探測，這種掃瞄方式將可以同時(shí)得

到能量分布和表面形貌的影像，換言之，這將是一種新的顯微鏡

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