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常見問題

石景山掃描顯微鏡的應(yīng)用較為廣泛如黏著、摩擦等進(jìn)行量測

作者：發(fā)布時間：2022-07-02 20:56:41點(diǎn)擊：1878

信息摘要：

大家好，這里是老上光顯微鏡知識課堂，在這里你可以學(xué)到所有關(guān)于顯微鏡知識，好的，請看下面文章：掃描顯微鏡的應(yīng)用較為廣泛如黏

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掃描顯微鏡的應(yīng)用較為廣泛如黏著、摩擦等進(jìn)行量測

掃描探針顯微技術(shù)，應(yīng)用最為廣泛

SPM- 掃描探針顯微鏡

SPM主要應(yīng)用于基礎(chǔ)性學(xué)術(shù)研究，根據(jù)應(yīng)用的范圍發(fā)展出一系列不同類型的SPM，

更加深與拓寬了其實(shí)用性?？删C合地對物質(zhì)表面的微結(jié)構(gòu)的性質(zhì)，如溫度、硬度、電容以及磁、電、黏著、摩擦等進(jìn)行量測和分析

掃描探針顯微鏡包含微探針、感測器、掃描平臺和控制系統(tǒng)幾個部份，如下圖所示。

其原理是利用一根極微細(xì)的探針(微探針)，在極靠近試片表面處對試片表面的形貌或特性(如：電、磁和光等特性)進(jìn)行探測。

對于其幾個頗重要的部份，于下列作進(jìn)一步的介紹

除電子顯微像外﹐利用透射電鏡還可以觀察電子衍射圖﹐如高分辨衍射﹑選區(qū)衍射﹑微區(qū)衍射和會聚束衍射等。

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